Scopri le caratteristiche dell’analizzatore In-line SMX-ILH XRF di EDAX!

edax

Il sistema SMX-ILH XRF di EDAX è un tool di controllo e gestione che permette analisi in-line di composizione e spessore di rivestimenti su substrati rigidi e flessibili.

Le principali caratteristiche e sono:

  • Permette l’alloggiamento di materiali rivestiti, per controllo su interi pannelli sia in maniera statica che lungo i punti del gradiente tramite un modulo motorizzato di misura, a singola o doppia testa.
  • Lo schermo termico brevettato del SMX-ILH facilita l’acquisizione in tempo reali dei dati XRF su substrati caldi, fi no a 300°C, riducendo tempi di sosta del pannello e incrementando il volume di processo.
  • Un dedicato sistema di posizionamento verticale (asse Z) aumenta la qualità di misura potendo accomodare campioni con concavità/convessità e in generale con deviazioni di planarità, cosa molto comune in grandi pannelli, soprattutto a temperature elevate.

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