La Spettrometria di Massa a Ioni Secondari (SIMS) è usata per determinare la composizione chimica ed isotopica di campioni solidi.

CAMECA , leader nel settore della strumentazione scientifica e delle soluzioni di metrologia, presenta due nuovi SIMS  ultra sensibili: IMS 1300 HR³ e KLEORA.

Entrambi gli strumenti incorporano i migliori sviluppi della tecnologia di microanalisi e trovano impiego in varie applicazioni.

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