SPECTRO XEPOS è uno spettrometro ED-XRF sviluppato per applicazioni complesse, in particolare per l’analisi degli elementi critici di processo e ambientali. Fornisce progressi rivoluzionari nell’analisi multi-elementale degli elementi principali, minori ed in traccia. E’ stato sviluppato in diverse versioni per ottimizzare e massimizzare le prestazioni degli elementi selezionati in matrici specifiche.

Può essere impiegato per diverse applicazioni: l’analisi di campioni geologici, suoli, fanghi, rifiuti e oli esausti…

Ecco una rappresentazione schematica di SPECTRO XEPOS.

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