EDAX, leader nella microanalisi a dispersione di energia dei raggi X, nella diffrazione di elettroni elettrodiffusi (EBSD) e nei sistemi a microfluorescenza di raggi X, presenta il nuovo analizzatore SMX-BEN.

Si tratta del primo analizzatore della serie XRF che consente la rapida e non distruttiva misura dello spessore e l’ analisi della composizione di praticamente qualsiasi materiale.

Esposto per la prima volta a Pitticon 2015, questo strumento si caratterizza per la straordinaria precisione e versatilità.

Per conoscere tutte le caratteristiche e i campi di applicazione di questo strumento frutto della grande esperienza EDAX nella metrologia, clicca sul seguente link!

Log in with your credentials

Forgot your details?