Continua l’impegno di Taylor-Hobson per fornire soluzioni di massima precisione, risoluzione ed affidabilità. L’azienda presenta un video sul canale YouTube per illustrare l’ampia gamma di strumenti CCI:

CCI MP: un versatile profilometro 3D senza contatto, può misurare superfici da quelle estremamente ruvide a quelle estremamente lisce, curve, piatte o sfaccettate.

CCI MP HS: qualunque sia il componente, a prescindere da quanto velocemente deve avvenire l’analisi, l’affidabilità dei risultati della misurazione della superficie 3D sono assicurati grazie al rivoluzionario profilometro ottico senza contatto CCI MP HS.

CCI HD: è stato progettato e realizzato per offrire entrambi i tipi di misurazione dello spessore della pellicola oltre alle funzionalità dimensionali e di finitura superficiale. L’analisi di Film Sottili è stata spesso utilizzata di recente per studiare i rivestimenti semi-trasparenti, ora fino a circa 50 nanometri.

CCI OPTICS: al passo con l’esperienza dei ricercatori e degli scienziati nel settore dell’ottica, è pronto per gli esigenti requisiti di misurazione nel campo dell’ottica. Questo apparecchio offre lo strumento ideale di misurazione ed analisi della finitura superficiali su componenti ottici.

CCI SunStar: la sensibilità e la straordinaria velocità rende il CCI SunStar uno strumento ideale per la Ricerca e Sviluppo e una garanzia della qualità per la metrologia celle solari.

Prendete visione delle straordinarie capacità di questa gamma di prodotti, vi accorgerete della tensione di Taylor-Hobson alla continua ottimizzazione.

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