Quando la superficie da analizzare è costituita da materiali dissimili, le tecniche interferometriche possono non riuscire a misurare la fase corretta.
 Ad esempio, ciò si verifica quando la superficie superiore di un gradino è costituita da un metallo assorbente o un semiconduttore e la superficie inferiore è costituita da un materiale non assorbente. Inoltre, quando sia la superficie superiore che quella inferiore hanno un rivestimento sottile in pellicola semi-trasparente, la differenza di cambiamento di fase sulla riflessione può causare un notevole errore nella determinazione dell’altezza del gradino.
 Il sistema CCI di Taylor Hobson supera questi problemi nelle misurazioni.
Per consultare la scheda tecnica del prodotto visita il sito www.taylor-hobson.com.

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