La gamma di prodotti CCI SunStar offerta da Taylor-Hobson consente il controllo dei parametri critici per migliorare l’efficienza delle celle solari; in particolare è in grado di misurare rugosità superficiale, profondità solchi, altezza passo e spessore del film.

Ottimizzando la profondità dei solchi delle cellule è importante minimizzare il costoso uso di argento. Per controllare le dimensioni dei solchi il CCI SunStar offre la possibilità di misurare le tracce sia in altezza che in larghezza consentendo l’ottimizzazione del rendimento delle celle con un conseguente riduzione dei costi.

L’alta velocità di misura fornisce un rendimento elevato campione e l’opzionale automazione offre la possibilità di analizzare più zone e / o punti. L’insieme di questi dati permettono un campionamento più rappresentativo dello stato superficiale. Una camera ad alta risoluzione combinata con un obiettivo a grande area sono essenziali per la comprensione delle proprietà superficiali necessarie per migliorare l’efficienza del prodotto.

L’ultima generazione del software assicura conformità con i parametri 3D della normativa standard ISO 25178 e una piena tracciabilità metrologia.

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