La microsonda SXFive Cameca permette micro-analisi qualitative e quantitative per applicazioni in geochimica, mineralogia, geocronologia, metallurgia e nucleare, scienze dei materiali, biochimica, microelettronica… Essa viene equipaggiata con una colonna elettronica compatibile con sorgenti in W e LaB6.

La corrente del fascio è continuamente regolata, raggiungendo una stabilità dello 0.3% per 12 ore, assicurando analisi quantitative a lungo termine. Il sistema ad alta tensione opera fino a 30 kV per elementi ad alto numero atomico. Correnti ad alta intensità (svariati µA) possono essere impiegate per analisi di elementi in traccia e mappatura a raggi-X ad alta velocità.

LA SXFive può essere implementata con una sorgente a Field Emission (modello SXFiveFE). La spettrometria WDS è riconosciuta come un metodo per analisi quantitativa ad alta precisione. Fino a 5 spettrometri WDS, più uno spettrometro EDS, possono essere montati sulla microsonda SXFive. Encoder ottici assicurano il posizionamento accurato degli spettrometri che possono essere montati sia verticalmente che inclinati per superfici rugose. Cristalli ad alta sensibilità permettono un incremento dei conteggi di almeno di 3 volte  mantenendo il rapporto picco/background e la risoluzione spettrale su tutto il range analitico coperto da ciascun spettrometro.

Usando una camera digitale CCD, campioni opachi vengono visualizzati in luce riflessa mentre campioni a sezione sottile in  luce trasmessa. Il campo visivo dell’immagine ottica è variabile  da 250 a 1700 µm grazie a una lente motorizzata. Un sistema di autofocus fà sì che la superficie del campione si trovi sempre nella corretta posizione focale.

La SXFive è equipaggiata con le moderne tecnologie di acquisizione immagini a raggi-X, automazione controllata da PC con la versione Windows più aggiornata e un’interfaccia user-friendly. Tutti i processi analitici sono completamente automatizzati per raggiungere la massima efficienza.

Per maggiori informazioni si veda www.controllitecnologici.com

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