Analisi degli elementi di materiali geologici

L’analisi degli elementi è uno degli strumenti investigativi più importanti in geologia, vitale nell’esplorazione dei minerali, nel controllo dei processi di estrazione e negli studi ambientali. La tecnologia della fluorescenza di raggi X a dispersione di energia (EDXRF) costituisce uno dei metodi più semplici, precisi ed economici di analisi per la determinazione della composizione chimica di molti tipi di campioni solidi, liquidi e in polvere. È una prova non distruttiva e affidabile che richiede una preparazione del campione molto più semplice rispetto ad altre tecniche.

Il catalogo SPECTRO include strumenti EDXRF che hanno caratteristiche ottimizzate per questo campo di lavoro. Per esempio, lo SPECTRO XEPOS è lo strumento multiruolo ideale per analisi di routine di elementi rilevanti che vanno dal Sodio all’Uranio e lo SPECTRO XEPOS HE è ottimizzato per la massima sensibilità quando si tratta di determinare elementi minori e in traccia, soprattutto gli elementi ‘medi’ e ‘pesanti’ importanti da un punto di vista economico e ambientale. Lo SPECTROSCOUT portatile ha tempi di misura brevi, che lo rendono ideale per investigazioni e indagini sul campo, dove può essere necessario eseguire molte misure nel modo più rapido ed efficiente possibile.

I cosiddetti ‘effetti matrice’ sono comuni nell’analisi geologica tramite XRF e, se vengono ignorati, possono causare significativi errori quantitativi. Negli strumenti EDXRF SPECTRO sono impiegate una tecnologia EDXRF avanzata e sofisticate tecniche di calibrazione per minimizzare e compensare tali effetti. Ciò significa che i sistemi precalibrati in fabbrica forniscono risultati accurati anche su campioni con matrici ampiamente diverse, rendendo questi strumenti eccezionalmente facili da impostare e utilizzare.

 

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