Un seminario sulla metrologia senza contatto

L’evento, organizzato da ENEA e Taylor Hobson, si svolgerà il 15 Aprile a Portici (Napoli)

Nel corso della mattinata sono previsti gli interventi del Dr. Ezio Terzini, che presenterà ENEA, del sig. Fabio Papaleo, che presenterà Taylor Hobson, e del Dr. Mike Conroy, che spiegherà le basi dell’interferometria e i suoi punti di forza e limiti. Nel pomeriggio, il Dr. Mike Conroy introdurrà il CCI e i suoi principi di funzionamento con particolare riferimento alle misure dei rivestimenti. Tra le applicazioni discusse, anche l’ottica, la microelettronica, ecc. Sarà inoltre sottolineata la correlazione fra le tecniche a contatto e senza contatto.

Durante il seminario, esperti Taylor Hobson della metrologia senza contatto saranno a disposizione dei partecipanti per una consulenza personale sui loro requisiti di misura più complessi.

L’appuntamento è a Portici (Napoli) in Piazzale Enrico Fermi, 1 –  Località Granatello, dalle 9.45 alle 16.

Per informazioni e/o adesioni:

sig. Fabio Papaleo
papaleo.f@rimec.net

oppure

sig. Valter Brambilla
valter.brambilla@ametek.it

 

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