Il CCI leader mondiale nelle misure 3D per superfici di tenuta

La possibilità di visualizzare rapidamente le proprietà della superficie 3D dei campioni, grazie ai nuovi profilometri superficiali CCI Taylor-Hobson, permette di risparmiare molto tempo e lavoro e di capire più rapidamente nuovi processi e materiali.

Molti utilizzatori prendono in considerazione il CCI per risolvere problemi di misura che altri strumenti non sono semplicemente in grado di gestire. La gamma, la risoluzione e la facilità d’uso eccezionali ne fanno la scelta ideale per le applicazioni R&D in campi come la misurazione dello spessore di film sottili e spessi, le celle solari di prima e seconda generazione, LED, MEMS, rugosità dei wafer, acciaio strutturato, protesi mediche, iniettori automotive, carta/toner e così via.

In tutti questi settori, il CCI offre una superba rappresentazione della struttura superficiale, l’analisi di planarità, rugosità, ondulazione e rastrematura radiale con una sola misura, l’ispezione automatizzata di più parti, una velocità di scansione fino a 105 micron/s con risoluzione sumnanometrica lungo l’asse Z e misure ad alta risoluzione di grandi aree.

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