La metrologia senza contatto sta giocando un ruolo sempre più importante nella ricerca. La capacità di visualizzare rapidamente le proprietà di superficie 3D dei campioni importanti può far risparmiare una grande quantità di tempo e fatica, aiutando a comprendere i processi innovativi e i materiali.

Molti utenti guardano al CCI per risolvere problemi di misura che altri strumenti semplicemente non possono gestire. Con la gamma eccezionale, la risoluzione e la facilità di funzionamento, il CCI Taylor-Hobson può facilmente diventare lo strumento ideale per la Ricerca e Sviluppo. Tra le principali caratteristiche, informazioni sulla superficie ad alta definizione 3D, con una superba rappresentazione della struttura superficiale; la risoluzione Z sub Angstrom indipendente dalla zona di misura, la tecnica di misura singola che fornisce i dati di cui ci si può fidare, la misura senza contatto che non danneggia le superfici fragili, la misurazione ad alta velocità che consente di risparmiare tempo prezioso e la facilità di installazione e uso, con conseguente minore formazione e più tempo per la ricerca.

Le possibilità di applicazione sono molto numerose: per esempio, spessore film sottili e  film spessi, rugosità wafer, impianti medicali, ricerca materiali, iniettori automotive, celle solari di 1° e 2a generazione, memorizzazione dei dati, finiture alberi motore, ottiche lucide, spessore del lubrificante, LED, tessitura acciaio, rugosità cuscinetti, MEMS, tornitura diamantata e carta/ toner.

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