Taylor-Hobson: profilometro ottico di estrema precisione, CCI HD

risultati sono quelli da vero leader del settore, il nuovo profilometro ottico CCI HD di Taylor-Hobson unisce l’efficienza alla perfezione. È in grado di assicurare la capacità di misurazione senza contatto sia le caratteristiche superficiali che i film sottili.

Questo profilometro ottico è l’ideale per misurare lo spessore di film da 5 micron a 50 nanomeri. Qualità ai massimi livelli per questo “gioiello” di casa Taylor-Hobson, grazie alla fotocamera per immagine ad alta risoluzione da 4 Megapixel, ma anche all’algoritmo di calcolo brebettato da Taylor-Hobson per la funzione di calcolo dei film sottili in aggiunta alle funzioni standard di AutoRange e AutoFringeFind, garanzia della facilità d’uso.

Il CCI HD non ha più molti limiti: è stato progettato per offrire i due tipi di misurazione dello spessore di film. E come se non bastasse, garantisce sia le misure di rugosità che quelle dimensionali. E’ ora possibile studiare ed analizzare rivestimenti di film sottile fino a 50 nm. Questo nuovo approccio, in un unica misurazione, consente lo studio di un ventaglio più ampio di proprietà, come lo spessore del film, la rugosità interfaccia, i difetti e la delaminazione delle superfici rivestite.

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