Uno dei gioielli di CAMECA si conferma un vero modello da copertina, grazie alla pagina patinata della rivista EDFAS, Electronic Device Failure Analysis.

LEAP di CAMECA, relativo alla tecnica Atom Probe Tomography 3D, si è aggiudicato la pagina più importante, la copertina, della prestigiosa rivista EDFAS.

È raffigurata la mappatura 3D di una zona a multi-quantum wells ricca in Indio, ‘cortocircuitata’ da un difetto a ‘V’ con diffusione di magnesio al suo interno. La profondità di analisi proposta in copertina è di circa 160nm; in grigio gli atomi di Gallio e Azoto, in rosso Magnesio e in blu le superfici a iso-concentrazione (In>0.25 at%) della struttura Quantum-Wells di Indio.

Log in with your credentials

Forgot your details?